光致衰減

(Light Induced Degradation)的研究已經(jīng)被大家所熟知。由于硅片中硼氧對(duì)復(fù)合、硼鐵的分離，導(dǎo)致光伏組件運(yùn)行的最初時(shí)間內(nèi)，可能會(huì)發(fā)生超過3%的功率衰減，根據(jù)IEC 61215-2:2016的初始穩(wěn)定測(cè)試程序，可以評(píng)估此類現(xiàn)象。光注入、改進(jìn)退火工藝等抗LID方案也投入了產(chǎn)業(yè)化應(yīng)用。

熱輔助光致衰減

(Light and Elevated Temperature Induced Degradation)相比LID有著更緩慢的衰減速率，且主要發(fā)生在50℃以上的環(huán)境中。目前LeTID發(fā)生機(jī)理不夠明確，可能與氫離子、金屬雜質(zhì)有關(guān)。

鈍化發(fā)射極背表面接觸太陽(yáng)電池技術(shù)（PERC/PERT/PERL）市場(chǎng)份額于2019年達(dá)到50%，并會(huì)在未來十年內(nèi)持續(xù)主導(dǎo)光伏市場(chǎng)。然而，這類太陽(yáng)電池極易受到LID與LeTID的影響而導(dǎo)致實(shí)際輸出功率衰減。

資料來源：ITRPV

測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)

LeTID測(cè)試面臨的困難

a.較低的施加電流或者測(cè)試溫度可能會(huì)導(dǎo)致LeTID發(fā)生速率過低，短周期測(cè)試無(wú)法探測(cè)衰減結(jié)果。

b.較高的施加電流或者測(cè)試溫度可能導(dǎo)致過快的功率恢復(fù)，會(huì)抵消LeTID的衰減，使測(cè)試衰減被低估。

TüV北德推出P12.4-AA-06 LeTID測(cè)試程序

a.初始穩(wěn)定性測(cè)試后，測(cè)試組件初始功率Pinitial。

b.將組件連接到電流源，放入到環(huán)境箱中，加熱組件到75°C后，然后施加 Isc和Impp差值的電流，維持162h (+8/-0h)。

c.待組件冷卻至25°C后，測(cè)試功率。

d.重復(fù)b, c直到

-連續(xù)兩輪環(huán)境箱后測(cè)試功率衰減小于1%

-或者最后一輪測(cè)量的功率比上一輪后的功率升高

e.每塊進(jìn)行以下公式的判定：

Pfinal ≥ 0.95 x Pinitialx (1−