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SEMI邀請產業人士加入中國光伏標準工作組

   2010-10-25 SEMI21世紀新能源14460
SEMI近日發起最新一輪的的光伏行業全球標準投票,內容涉及產業多個環節的重要技術指標。SEMI作為高科技領域的全球化組織,與會員公司和產業人士一起,共同參與全球光伏行業標準的協調與制定工作。當光伏中國制造已成為我們的驕傲,且光伏市場持續兩位數高速增長時,光伏標準就成為了中國乃至全球業界亟待突破與解決的瓶頸。SEMI成立中國光伏標準工作組,鼓勵和組織中國太陽能產業公司和產業人士積極參與產業標準的起草和制定,這將大大幫助中國的太陽能廠商降低生產成本,提高產能及產品可靠性,并及時把握產業動向。

早在1973年,SEMI就開始與會員公司一起制定晶圓尺寸等半導體行業標準,目前已有800多條國際標準在半導體制造、平板顯示等多項領域得到普遍運用。而從2007年開始,隨著光伏行業的蓬勃發展,SEMI開展推動在光伏領域的標準制定工作。目前已經成立了北美、歐洲、日本、臺灣地區在內的技術委員會,接近20個任務小組或工作小組,覆蓋了包括硅材料、硅片、晶體電池、晶體組件、薄膜、原材料、測試方法、設備接口等在內的多個領域。

截止2010年10月18日,SEMI已共計發布了23條光伏行業相關標準,在全球業界得到廣泛應用和推崇

E10-0304E――設備可靠性、可用性和可維護性定義說明
Specification for Definition and Measurement of Equipment Reliability, Availability, and Maintainability (RAM)

F47-0706――半導體工藝設備電壓暫降預防說明
Specification for Semiconductor Processing Equipment Voltage Sag Immunity

F108-0310――用于半導體、平板顯示、太陽能電池制造的液體化學試劑管道傳送部件指南
Guide for Integration of Liquid Chemical Piping Components for Semiconductor, Flat Panel Display, and Solar Cell Manufacturing Applications

M6-1108――用于制造光伏電池的硅晶圓規格說明
Specification for Silicon Wafers for Use as Photovoltaic Solar Cells

M44-0305――硅中間隙氧轉化因素指南
Guide to Conversion Factors for Interstitial Oxygen in Silicon

ME391-0310――利用穩態表面光電壓測試方法測量非本征半導體中少數載流子擴散長度的方法
Test Method for Minority Carrier Diffusion Length in Extrinsic Semiconductors by Measurement of Steady-State Surface Photovotake

MF1188-1107――利用短基線紅外吸收法測量硅中間隙氧含量的方法
Test Method for Interstitial Oxygen Content of Silicon by Infrared Absorption With Short Baseline

MF1619-1107――利用在布魯斯特角進行p型極化入射獲得紅外吸收光譜測量硅晶圓中間隙氧含量的測試方法
Test Method for Measurement of Interstitial Oxygen Content of Silicon Wafers by Infrared Absorption Spectroscopy with p-Polarized Radiation Incident at the Brewster Angle

MF1727-0304――檢測拋光硅晶圓中因氧化導致缺陷的操作方法
Practice for Detection of Oxidation Induced Defects in Polished Silicon Wafers

MF 1809-0704――表征硅中結構性缺陷的刻蝕方案的選擇與使用指南
Guide for Selection and Use of Etching Solutions to Delineate Structural Defects in Silicon

MF 1810-0304――硅中優先刻蝕或綴飾的表面缺陷的計量測試方法
Test Method for Counting Preferentially Etched or Decorated Surface Defects in Silicon Wafers

PV1-0709――利用高質量分辨率輝光放電質譜測量光伏級硅中微量元素的方法
Test Method for Measuring Trace Elements in Photovoltaic-Grade Silicon by High-Mass Resolution Glow Discharge Mass Spectrometry

PV2-0709E――光伏設備通信接口指南(PV ECI)
Guide for PV Equipment Communication Interfaces -Unified communication standard between PV production equipment and the shop floor

PV3-0310――用于光伏電池處理工藝的高純水指南
Guide for High Purity Water Used In Photovoltaic Cell Processing

PV4-0710――用于光伏應用薄膜第五代襯底尺寸范圍的規范
Specification for range of 5th generation substrate sizes for thin-film Photovoltaic application

PV5-1110――用于光伏行業的氧氣(大宗氣體)指南
Guide for Oxygen (O2), Bulk, Used In Photovoltaic Applications

PV6-1110――用于光伏行業的氬氣(大宗氣體)指南
Guide for Argon (Ar), Bulk, Used In Photovoltaic Applications

PV7-1110――用于光伏行業的氫氣(大宗氣體)指南
Guide for Hydrogen (H2), Bulk, Used In Photovoltaic Applications

PV8-1110――用于光伏行業的氮氣(大宗氣體)指南
Guide for Nitrogen (N2), Bulk, Used In Photovoltaic Applications

PV11-1110――用于光伏行業的氫氟酸規格說明<

 
標簽: 光伏標準
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